本测量设备是用于各种材料散射特性测量。通过光源一维旋转，探测器二维旋转实现不同入射和反射（透射）几何条件下样品反射、透射辐亮度的测量。系统包括准直光源、光源支架、可调样品支架、探测器、探测器旋转机构、探测器支架及测试软件等部分。

主要测试参数

Ø 复色光和单色光BRDF

Ø 复色光和单色光BTDF

Ø 不同角度反射透射光通量

Ø 不同角度反射透射辐射亮度

Ø 材料不同角度散射光色温，色坐标

系统结构

1. 光源

² 为提高样品散射信号的信噪比，采用宽光谱高亮度卤钨灯作为光源，并通过准直透镜将光线准直后出射到样品上。

² 可通过调节透镜焦距，实现不同大小光斑。

² 光源还可增加滤光片，实现不同颜色单色光入射。

2 光源支架

² 通过半圆形光源支架，实现光源0-180°入射角度调节。

² 采用高精度步进电机，配合软件控制，保证入射角度精确性。

3.可调样品支架

² 样品可被夹持在样品支架上。

² 样品支架可上下调节，通过光源及探测器对准标记，实现样品位置调节及对准。

4.探测器

² 采用硅探测器，探测范围300nm-1000nm。

² 进行散射特性绝对测量时，可选装探测系统，主要包括成像光学系统、斩波器、单色仪、探测器和锁相放大器等。成像光学系统对样品漫射板测点成像，像位于单色仪入射狭缝。复色光进入单色仪入射狭缝经准直后由光栅分光，再经会聚镜会聚至探测器，探测器将光信号转换为电信号，由锁相放大器放大并根据斩波器频率提取信号获得光谱DN值。

5.探测器支架及旋转机构

² 探测器支架及旋转机构，可使探测器在整个球面范围内移动，实现对反射和透射信号测量。

² 采用高精度步进电机，配合软件控制，保证反射和透射角度精确性。

6.软件部分

为了提高测量速度和精度，特别为装置开发了测控软件，支持多种几何条件下散射特性一次性自动测量。首先进行光源入射辐亮度测量，而后对样品漫射板设定几何条件反射辐亮度进行测量，如此循环直至完成所有设定几何条件的散射特性测量为止，软件直接输出散射特性曲线。

软件测试界面